Background impurities in Si0.8 Ge0.2/Si/Si0.8 Ge0.2 n-type delta-doped QW

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículo

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)464 - 469, 
PublicaciónPhysica Status Solidi B-Basic Research
Volumen254
DOI
EstadoPublicada - 1 ene 2016

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