Background impurities in Si<inf>0.8</inf>Ge<inf>0.2</inf>/Si/Si<inf>0.8</inf>Ge<inf>0.2</inf>n-type δ-doped QW

V. Tulupenko, C. A. Duque, A. L. Morales, A. Tiutiunnyk, R. Demediuk, T. Dmytrychenko, O. Fomina, V. Akimov, R. L. Restrepo, M. E. Mora-Ramos

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Background impurities in Si<inf>0.8</inf>Ge<inf>0.2</inf>/Si/Si<inf>0.8</inf>Ge<inf>0.2</inf>n-type δ-doped QW'. En conjunto forman una huella única.

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